Лабораторные микроскопы серии Eclipse L
Серия инспекционных микроскопов Eclipse L200N Series с оптической системой CFI60 с моторизованной сменой объективов идеальна для анализа, осмотра и проверки полупроводниковых пластин, фотомасок, сеток и других образцов размером 200мм.
L200N – модель для работы в режиме эпископического освещения
L200ND – модель для работы в режиме эпископического/диаскопического освещения
В сочетании с оптической системой CFI60 обновленная система освещения позволяет этим микроскопам получать изображения с большей контрастностью, высокой разрешающей способностью и в три раза более четкие темнопольные изображения, чем раньше. Могут эксплуатироваться самостоятельно или в сочетании с загрузчиками пластин.
Категория: прямые микроскопы
Методы исследования: светлое поле, темное поле, простая поляризация, ДИК, эпифлуоресценция (только для модели L200ND)
Области применения: телекоммуникации и электроника, полупроводниковые пластины, телескопическая оптика, мобильные телефоны, электробритвы и часы.
Спецификация
Ссылка на сайт производителя
